Feinmetall,德國Feinmetall探測器,電池觸點,短旅游探針,細間距探針,雙柱塞探針,接口探測器,同軸探頭,射頻探頭,高電流探頭,螺紋探針,線束探針,步探針,開關探頭,防扭探頭,推回探針
1964年，建立Feinmetall是作為高科技手表彈簧生產的專家。1974年，生產先進彈簧接觸探針作為電子工業的測試介質。1980年，開發出先進個帶有“屈曲梁”技術的測試頭，用于接觸陶瓷基板。1985年，推出***用于晶圓測試的環氧探針卡。1986年，開始生產用于電路板的在線和功能測試的測試夾具。1997年，ViProbe?（垂直探針卡）的推出代表了微觀聯系的技術飛躍。Feinmetall探針的競爭力就在于實現客戶的需求，并開發成功的產品技術。由于經濟上的基礎，使Feinmetall探針不斷創新和持續增長比較終走向成功。
Feinmetall彈簧接觸探針用于測試印刷電路板，線束，連接器和其他電子元件。此外，它們可用于接口和易于拆卸的電氣連接。Feinmetall在接觸晶圓方面處于技術優質地位。品牌ViProbe下提供垂直探針卡?屬于市場上的主導產品。即使是比較困難的聯系制定任務，高度專業化的開發和工程團隊也能找到新的解決方案。
Feinmetall主導產品：ICT/FCT探測器、電池觸點、短旅游探針、細間距探針、雙柱塞探針、接口探測器、同軸探頭、射頻探頭、高電流探頭、螺紋探針、線束探針、步探針、開關探頭、防扭探頭、推回探針
Feinmetall探針 HF05-0001、HF05-0002、HF19-0001、HF19-0002、HF19-0003、HF66-0001、HF66-0002、HF66-0003、HF66-0004、HF66-0005、HF66-0006、HF66-0007、HF66-0008、HF66-0009、HF66-0010、HF66-0011、HF66-0012、HF66-0013、HF66-0014、HF66-0015、HF86002B0001G530、HF86002B0005G530、HF86002B0012G930、HF86005B0002G530、HF86005B0003G530、HF86005B0004G530、HF86005B0006G470、HF86005B0011G530、HF86018B0010G530
Feinmetall,德國Feinmetall探測器,電池觸點,短旅游探針,細間距探針,雙柱塞探針,接口探測器,同軸探頭,射頻探頭,高電流探頭,螺紋探針,線束探針,步探針,開關探頭,防扭探頭,推回探針
1964年，建立Feinmetall是作為高科技手表彈簧生產的專家。1974年，生產先進彈簧接觸探針作為電子工業的測試介質。1980年，開發出先進個帶有“屈曲梁”技術的測試頭，用于接觸陶瓷基板。1985年，推出***用于晶圓測試的環氧探針卡。1986年，開始生產用于電路板的在線和功能測試的測試夾具。1997年，ViProbe?（垂直探針卡）的推出代表了微觀聯系的技術飛躍。Feinmetall探針的競爭力就在于實現客戶的需求，并開發成功的產品技術。由于經濟上的基礎，使Feinmetall探針不斷創新和持續增長比較終走向成功。
Feinmetall ICT FCT 探頭
Feinmetall ICT FCT 探頭
種類繁多：適用于所有常見間距的接觸式探頭和適用于困難條件的創新技術。
Feinmetall線束探頭
Feinmetall線束探頭
用于測試模塊構造的實用觸點：用于連接器測試的螺紋探針、階梯探針和推回探針。
Feinmetall彈簧連接器
Feinmetall彈簧連接器
完美的解決方案：在產品中實現低磨損、可拆卸的電觸點。
Feinmetall大電流探頭
Feinmetall大電流探頭
靈活可靠：在有限空間內安全傳輸大電流、電池測試和電動汽車的智能解決方案。
Feinmetall開爾文探頭
Feinmetall開爾文探頭
最小空間內的四極測量：以內導體作為感應引腳的同軸接觸探頭，從最小間距到***電流。
Feinmetall射頻探頭
Feinmetall射頻探頭
所有常見射頻連接器的接觸：頻率高達 20 GHz，采用智能設計，可實現***可靠性和易于安裝。
Feinmetall細間距探頭
Feinmetall細間距探頭
在可能的極限：可靠的接觸探針，用于精細結構和低至 40μm 間距的半導體接觸。
Feinmetall ViProbe ?探針卡
Feinmetall ViProbe ?探針卡
ViProbe? 適用于廣泛的應用范圍，是一種經過驗證的屈曲梁技術超過 25 年，最重要的是其獨特的易修復性。
Feinmetall ViProbe ? II 探針卡
Feinmetall ViProbe ? II 探針卡
新版垂直接觸技術，專注于延長使用壽命和其他優勢。
Feinmetall MμProbe ?探針卡
Feinmetall MμProbe ?探針卡
MEMS 接觸元件，專注于晶圓測試中的細間距全陣列應用。
Feinmetall LiProbe ?探針卡
Feinmetall LiProbe ?探針卡
帶有薄片接觸元件的探針卡，特別適用于設計種類繁多的射頻應用。
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